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超声波测厚仪测管件多重优惠「多图」
发布时间:2020-07-15

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视频作者:济宁儒佳检测仪器有限公司






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射线探伤是利用射线的穿透性和直线性来探伤的方法。这些射线虽然不会像可见光那样凭肉眼就能直接察知,但它可使照相底片感光,也可用特殊的来接收。常用于探伤的射线有和同位素发出的γ射线,分别称为探伤和γ射线探伤。当这些射线穿过(照射)物质时,该物质的密度越大,射线强度减弱得越多,即射线能穿透过该物质的强度就越小。此时,若用照相底片接收,则底片的感光量就小;若用仪器来接收,获得的信号就弱。因此,用射线来照射待探伤的零部件时,若其内部有气孔、夹渣等缺陷,射线穿过有缺陷的路径比没有缺陷的路径所透过的物质密度要小得多,其强度就减弱得少些,即透过的强度就大些,若用底片接收,则感光量就大些,就可以从底片上反映出缺陷垂直于射线方向的平面投影;若用其它也同样可以用仪表来反映缺陷垂直于射线方向的平面投影和射线的透过量。由此可见,一般情况下,射线探伤是不易发现裂纹的,或者说,射线探伤对裂纹是不敏感的。因此,射线探伤对气孔、夹渣、未焊透等体积型缺陷敏感。即射线探伤适宜用于体积型缺陷探伤,而不适宜面积型缺陷探伤。








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目前A型超声波探伤仪只能提供缺陷回波的时间和幅度两方面的信息。沧州欧谱探伤人员根据这两方面的信息来判定缺陷的性质是由困难的。实际探伤中,常常是根据经验结合缺陷波形、底波情况、加工工艺、缺陷特征来分析估计缺陷的性质。

一、 通过缺陷波形分析缺陷性质 缺陷波形分为静态波形和动态波形两大类。静态波形是指探头不动时缺陷波的高度、形状和密集程度。动态波形是指探头在探测面上的移动过程中缺陷波的变化情况。

1、 静态波形 缺陷内含物的声阻抗对缺陷回波高度有较大的影响。白点、气孔等内含气体,声阻抗很小,反射回波高。非金属或金属夹渣声阻抗较大,反射回波低。另外,不同类型缺陷反射波的形状也有一定的差别。例如,波形陡直尖锐,则缺陷为表面较为平滑的气孔。而波形宽大并带锯齿,则缺陷为表面较为粗糙的夹渣。气孔和夹渣的静态波形如图1所示。

2、 动态波形 超声波入射到不同性质的缺陷上,其动态波形是不同的。常见不同性质的缺陷动态波形如图2所示。 不同性质的密集缺陷的动态波形对探头移动的敏感程度不同。白点对探头移动很敏感,只要探头稍一移动,缺陷波立刻此起彼伏,十分活跃。但夹渣对探头移动不太敏感,探头移动时,缺陷波变化迟缓。








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